产品概述

*“X射线强度测量设备”由X射线探测器及匹配的信号处理器组成，提供了X射线强度测量的完整方案；
* 该设备采用半导体器件构成X射线探测器，具有测量动态范围大，能量范围广，灵敏度高，稳定性好，便于维护，长期运行稳定的特点，以其超高性价比，挑战了传统电离室X射线探测设备的应用；
* 该设备已经广泛应用于同步辐射科学实验及工业生产流程中 

特色

* 采用全新原理的探测器件,其探测灵敏度比常规电离室探测器高一个数量级,从而提高了探测灵敏度,探测精度,及单点的测量速度；
* 探测器具有超大测量动态范围及能量响应范围，其能量响应覆盖从几个 KeV到高达 700 KeV以上，可以实现对高Z材料及厚材料的测试；
* 采用配套的高稳定性的信号处理器，根据测量工况定制式设置参数从而获得最佳测量精度及稳定性；
* 信号输出为模拟输出，可通过A/D采集卡与计算机连接； 
* 根据用户定制要求可以提供控制计算机的信号处理及界面软件；
* 比照常规电离室探测系统，该系统具有结构简单，性价比高的优势；
* 以该产品为基础，本公司提供工业生产流程中材料厚度监测系统的整体解决方案。
设备组成
1.X射线强度探测器；
2.匹配电子学处理器；
3.AD变换器（可选）
4.固定器件
5.连接电缆

X射线强度测量设备参数

X射线强度探测器

窗口尺寸：            Ф8 mm / 10×20 mm（可选）

探测能量范围：      5 ～ 30 KeV或30 ～ 700 KeV

外形尺寸：            46（宽）×46（高）×58（厚）mm

                             37（宽）×46（高）×47（厚）mm

                           （可定制）

信号引出插座：     BNC/SMA座（可选）

信号处理器；

1.   输入电流范围：100 pA ～ 100 µA （根据系统需要预设）

2.   输出电压范围：±3.3 V

3.   通频带参考值（随量程设置而异）

4.   放大倍数误差：       ≤±1%FS

5.   噪声（输入端开路）：  输出端电压：≤0.5mV（rms）

6.   直流漂移：       10³-10⁸ 输出电压≤0.30μV/℃

7.   输出阻抗：         <50Ω

8.   供电电源：         ～ 220V

9.   外形尺寸：           180╳80╳60（单位：mm）

10.   重量：               450克