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荧光XAFS探测
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半荧光XAFS探测是应用于同步辐射XAFS实验方法中对于痕量元素探测的专用探测方法。
其特点是可以从大背底信号中提取微弱的含有XAFS信息的荧光信号，因而成为获取痕量元素XAFS吸收谱的有效方法。适用于样品中待测元素重量百分比在10％以下，几百PPM以上范围的样品，广泛应用于蛋白质结构，稀土材料结构研究。在目前应用的荧光XAFS探测器中本公司开发的荧光XAFS探测器采用了独特的设计，具有很高的性价比。
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